高低溫試驗(yàn)箱的溫度校正方法
作者:林頻儀器發(fā)布時(shí)間:2020-12-03 11:23
高低溫試驗(yàn)箱適用工業(yè)品高低溫試驗(yàn)的可靠性測試,是對(duì)電工電子、轎車摩托車、航天航空、船只武器、高等學(xué)校、科研機(jī)構(gòu)等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及原材料在高、超低溫交替變化循環(huán)系統(tǒng)轉(zhuǎn)變的狀況下,檢測其各類性能參數(shù)。
高低溫試驗(yàn)箱的溫度校正有下列方式,在具體工作上必須依據(jù)具體情況挑選適合的方式,下邊我企業(yè)便對(duì)這幾類校正方式的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)開展詳細(xì)介紹。
一、在無負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行校正:此方式的優(yōu)勢是:高低溫試驗(yàn)箱的全部工作中地區(qū)都獲得了校正、檢測試品越來越更時(shí)不用再次校正、可以對(duì)高低溫試驗(yàn)箱的適用范圍作出合理的評(píng)定。而它的關(guān)鍵缺陷是:不可以評(píng)定檢測試品對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱所導(dǎo)致的危害。
二、在有負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下進(jìn)行校正:此方式的優(yōu)勢是:可以較為精確地評(píng)定檢測試品對(duì)環(huán)境試驗(yàn)箱特性的危害、便于獲得檢測試品核心部件或位置的自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)的詳細(xì)資料。而它的關(guān)鍵缺陷是:當(dāng)拆換檢測試品時(shí),必須再次校正。
三、在應(yīng)用全過程中的即時(shí)精確測量:此方式不但具備1和2上述的方式具備的優(yōu)勢,并且可以獲得檢測試品在自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)全過程中全方位的環(huán)境參數(shù),通常在對(duì)自然環(huán)境規(guī)定很高的商品實(shí)驗(yàn)時(shí)選用。它的關(guān)鍵缺陷是:每一次自然環(huán)境實(shí)驗(yàn)都必須應(yīng)用測量設(shè)備,一般在環(huán)境試驗(yàn)箱校正時(shí)選用無負(fù)荷標(biāo)準(zhǔn)下的校正方式,文中為了更好地便于評(píng)定環(huán)境試驗(yàn)箱的溫度特性,也選用了此方式開展剖析。
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