常見國標GB/T 2423.3-2016前言介紹

 

 GB／T 2423.3—2006為GB／T 2423（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗》的第3部分。

本部分等同采用IEC 60068—2—78：2001（環(huán)境試驗 第2—78部分：試驗 試驗Cab；恒定濕熱試驗）（英文版）。

本部分刪除了IEC：60068—2—78：2001中的“前言”的內(nèi)容。

本部分代替GB／T 2423.3—1993（電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法）及GB／T 2423.9—2001（電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb：設備用恒定濕熱》。主要變動如下：

1）本部分將原標準GB／T 2423.3—1993《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法）及GB／T2423.9—20014電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cb：設備用恒定濕熱這兩項標準合并為一標準，即GB／T 2423.3—2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗）；

2）本部分在對試驗箱的要求中明確規(guī)定短期的溫度波動要保持在±0.5K范圍內(nèi)以保持所要求的濕度條件：

3）本部分對試驗箱的濕度容差統(tǒng)一規(guī)定為±3％；

4）本部分比原來的兩個標準增加了推薦的持續(xù)時間；

5）本部分增加了附錄A。

本部分的附錄A為資料性附錄。本部分由中國電器工業(yè)協(xié)會提出。

本部分由全國電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件與環(huán)境試驗標準化技術(shù)委員會歸口。本部分起草單位：廣州電器科學研究院。

本部分所代替標準的歷次版本發(fā)布情況為：GB／T 2423.3—1981、GB／T 2423.3—1993，GB/T 2423.9-1989、GB/T 2423.9-2001。